2.3.3　范德瓦尔斯异质结构

多种二维晶体堆垛形成的范德瓦尔斯异质结构也可以通过电子衍射进行定性分析。当参与堆垛的二维晶体材料的结构常数存在差异时，堆垛结构的HRTEM图像会出现明显的莫尔条纹，对应区域的电子衍射花样中也会出现明显不同的两套斑点（图2.18）。

图2.18　WSe₂-SnS₂异质结的结构分析^［51］

（a）WSe₂-SnS₂异质结的HRTEM像；（b）WSe₂-SnS₂堆垛区域的电子衍射花样；（c）WSe₂-SnS₂异质结的原子结构模型

湖南大学潘安练课题组通过CVD法成功合成WSe₂-SnS₂异质结构^［51］。图2.18（a）为该异质结构的HRTEM图像，图中能观察到明显的莫尔条纹，条纹间距约为2.2nm；图2.18（b）为堆叠区域对应的电子衍射花样，通过衍射斑点强度分析可以得到WSe₂和SnS₂片层之间的取向关系，进而得到图2.18（c）所示的原子结构模型。