本章介绍了半导体器件相关的辐射环境，包括空间辐射、大气辐射和地面辐射等，从电离损伤机理、理论及建模、功率器件的 SEE 和可靠性评估及加固技术等方面，对单粒子效应进行了介绍，对体硅和 SOI MOSFET 的总剂量效应的相关研究进行了简要介绍。
第2章主要介绍辐射效应仿真的基本物理模型及仿真工具等。
