集成电路测试基础
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2.1.1 开尔文连接

由于导线存在电阻,在测试中经常使用开尔文连接(Kelvin Connections)来进行测试。开尔文为人熟悉的是热力学温度单位。但在集成电路测试中,更广为人知的是开尔文连接方式。

开尔文连接也称:Four-terminal sensing,4-wire sensing,4-point probes method,Force and sense connections。这种连接方法在发明之初是用来消除导线电阻的影响,从而达到精确测量被测电阻的目的。

结合仿真软件说明一下,这里需要测量一个1Ω的电阻,假设导线的电阻为10mΩ/m(注意电阻率的单位是Ω·cm或Ω·m,同一种导线的横截面积固定,所以这里使用mΩ/m做单位),连接时使用的导线长度全部为1.5m。假设ATE的源是非常理想的,电压表的电阻为无穷大(使用0A的电流源代替),电流表的电阻为0(使用0V的电压源代替),电压源的内阻为0,电流源的内阻为无穷大。仿真电路中p表示皮(10-12),μ表示微(10-6),m表示毫(10-3),k表示千(103),Meg表示兆(106),G表示吉(109),以下图中15m表示电阻是15mΩ。初学者注意区分m和Meg,SPICE仿真软件中不区分大小写字母,因此不能用M表示兆,必须使用Meg。

方法一:利用欧姆定律:R=U/I,设置电压源输出1V电压,利用电流表来测量电流源流过的电流,FVMI模式2线测量电阻仿真电路及仿真结果如图2.1.1所示。

图2.1.1 FVMI模式2线测量电阻仿真电路及仿真结果

根据仿真结果,计算得到电阻值:R=U/I=1V/0.9709A=1.03Ω,可以看到,多出30mΩ,正好是导线的电阻值。

这个计算结果的相对误差有多大呢?(1.03-1.0)/1.0×100%=3%。而精密电阻的误差通常在0.1%以下,所以,这个精度是无法满足测试要求的。

方法二:改为开尔文连接,简单地增加一个电压表,直接测量R_DUT两端的电压。仿真时,用0A的电流源作为电压表,FVMI模式开尔文连接电路及仿真结果如图2.1.2所示。

与前面的仿真电路相比,电流不变,测量到电阻两端的电压为0.9709V,这时R=U/I,计算出的结果,正好为1Ω,误差可以忽略不计。

那么如何理解开尔文连接?

1)电路存在两条环路,电流输出环路和电压测量环路。注意,滤波电容要连接在电流环路上,通常因为电流环路需要流过比较大的电流,PCB布线会宽一些,连接线缆的线径会大一些;而电压测量环路通常只有微小电流流过,PCB布线会窄一些,连接线缆的线径会小一些。如果使用多层屏蔽线,通常线芯连通电压测量环路,中间可以通过大电流的屏蔽层连通电流输出环路。

图2.1.2 FVMI模式开尔文连接电路及仿真结果

2)在电流输出环路上,因为串联,可以认为电流处处相等;电流环路的输出端,通常叫作Force或者Drive。为了标识方向,正向的电流流出的输出端,称为High Force或者High Drive;电流流入的输入端,称为Low Force或者Low Drive(该端通常与测试电路的参考地相连)。

3)在电压测量环路上,可以认为,输入电流为0,是一个理想的电压表。即使不理想,输入电流也会非常小,而导线的电阻也很小,输入电流与导线电阻的乘积就更加小了,导线影响的电压误差会变得非常小。

为了更进一步理解开尔文连接的作用,我们先来看一下缓冲器电路。假设缓冲器的输出需要连接一段很长的导线才能到RL,假设这段导线的电阻为10Ω。缓冲器输出受线路电阻的影响,如图2.1.3所示。假设运放为理想的,计算得到的实际输出电压为:

式中,Vout是输出电压,单位V;Vin是输入电压,单位V;RL是负载电阻,单位Ω;RLine是导线的电阻,单位Ω。

所以,当线路存在不可忽略的电阻时,缓冲器的输出电压与实际输入电压之间存在误差,而且负载电阻RL越小时,线路电阻RLine上的电压降越大,通常把RLine上的压降称为电压损耗。

那如果将缓冲器的负反馈端,也同样连接到RL的上端,缓冲器输出抵消线路电阻的影响,如图2.1.4所示。假设运放是理想的,根据“虚断”原理,运放的输入端电流为0A,没有电流流过RLine2,所以RLine2两端的电压相等。再根据“虚短”原理,Vout=Vin。这时,线路电阻RLine1和RLine2的影响就被忽略掉了。

图2.1.3 缓冲器输出受线路电阻的影响

图2.1.4 缓冲器输出抵消线路电阻的影响

缓冲器的电路,我们只考虑了输出信号路径的导线电阻,没有考虑接地的返回信号的传输路径的导线电阻。使用开尔文连接的通用DC源的概念图,设计如图2.1.5所示的DC源的开尔文连接解释和计算仿真电路,使用电压控制电压源代替运放(EAMP),设置放大倍数为160dB(108),同样,用电压控电压源代替求和电路(ESUM)。这样就得到一个可以仿真的原理概念电路。

如图2.1.5所示的计算演示,当放大器的倍数趋于无穷大时,Vsum=Vin,也就是RLoad两端电压等于输入Vin设置的电压,消除了导线电阻对测试精度的影响。严格来讲无法完全消除,只是削弱到可以忽略不计的程度,普通电路10~100倍的数量级的差距就可以忽略不计,而ATE测试电路,通常需要1000~10000倍以上的数量级的差距才可以忽略不计。

可以尝试计算一下,图中的实际输出结果与预期设置的值之间的误差,这里演示的模型的误差主要是受EAMP的增益倍数a的影响,实际电路中是受放大器的开环放大倍数的影响。计算之后,再仿真验证一下计算结果是否正确。

图2.1.5 DC源的开尔文连接解释和计算仿真电路