第1章 关于集成电路测试

集成电路（Integrated Circuit，IC）测试和测量属于电子工程的专业领域，与IC设计相比，IC测试并不为人所熟知。测试工程师不仅需要操作自动化测试设备（Automatic Test Equipment，ATE），还需要电子电路、程序设计、数据分析等各方面的知识和经验的积累。

测试工程师的主要工作就是负责开发ATE所使用的测试程序和测试电路，用于IC的测试。这些测试包括实验室的数据分析测试以及老化测试，封装测试工厂的试产测试和量产测试。被测试的IC通常称为被测器件（Device Under Test，DUT）。测试程序控制ATE，在DUT的各个引脚上施加不同的电压或者电流激励（比如数字脉冲信号、直流信号、正弦波或三角波等波形信号），以及执行电压、电流、时间等测试和测量，来检查DUT是否合格，或者测试到的数据是否符合设计预期。

在实践中，遇到很多测试工程师，将精力集中在ATE的测试程序编写，而忽略了其他方面的知识，尤其是测试电路方面的知识。无论测试程序写得如何，最终都靠测试电路来执行，测试电路才会对DUT造成实际影响，所以在编写测试程序时应该给予测试电路足够的关注。