4.3　样品表征

用X射线衍射仪（XRD，X' Pert PRO）表征样品的晶体结构，用带有X射线能谱仪（EDX）的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM，Nova NanoSEM 450）表征样品的形貌特征，用透射电子显微镜（TEM，JEOL JEM-2100）表征样品的显微结构，用紫外可见漫反射分光光度计（Shimadzu UV-2550）测试样品的紫外可见漫反射（UV-Vis）吸收光谱。电池的J-V曲线是在标准状态［即AM1.5（1O0mW/cm2），25℃］下利用电化学工作站的线性扫描法测得。